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超聲探傷、磁粉探傷、射線探傷、滲透探傷

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超聲波測(cè)厚儀

奧林巴斯45MG超聲波測(cè)厚儀

更新時(shí)間:2020-02-09???點(diǎn)擊次數(shù):58次

45MG超聲測(cè)厚儀:

操作簡(jiǎn)便、堅(jiān)固耐用、性能可靠

 

   45MG儀器是一款帶有各種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量功能和軟件選項(xiàng)超聲測(cè)厚儀。這款特色的儀器與所有Olympus雙晶和單晶測(cè)厚探頭兼容,是一款集所有解決方案于一機(jī)的創(chuàng)新型儀器,可用于幾乎所有測(cè)厚應(yīng)用。

 標(biāo)準(zhǔn)功能

   45MG儀器在使用基本配置時(shí),是一款易懂易學(xué)、操作簡(jiǎn)便的測(cè)厚儀,操作人員經(jīng)過(guò)基本的培訓(xùn),就可完成常用的測(cè)厚應(yīng)用。不過(guò),45MG儀器添加了可選軟件選項(xiàng)和探頭后,就會(huì)變成一款極為測(cè)厚儀,可以進(jìn)行典型的初級(jí)儀器不能完成的應(yīng)用。此外,大多數(shù)選項(xiàng)可以在購(gòu)買(mǎi)儀器時(shí)分別購(gòu)買(mǎi),或在日后需要時(shí)購(gòu)買(mǎi)。

 

•  與所有Olympus雙晶探頭兼容,可對(duì)內(nèi)部腐蝕的金屬的厚度進(jìn)行測(cè)量

•  小值/大值模式

•  兩個(gè)報(bào)警模式

•  差值模式

•  時(shí)基B掃描

•  縮減率

•  增益調(diào)整(標(biāo)準(zhǔn)、高、低)

•  密碼式儀器鎖定


 

 帶有可選橡膠保護(hù)套和支架的45MG儀器

 

抵御惡劣環(huán)境的能力

•  堅(jiān)固耐用,設(shè)計(jì)符合IP67標(biāo)準(zhǔn)。

•  爆炸性氣氛:可在國(guó)家防火協(xié)會(huì)規(guī)范(NFPA 70)500節(jié)I級(jí)2分段D組規(guī)定的爆炸性氣氛環(huán)境中安全操作,并且通過(guò)了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810G方法511.4程序I中規(guī)定的測(cè)試。

•  防撞擊測(cè)試:通過(guò)了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810G方法516.5程序I中規(guī)定的測(cè)試,每軸6個(gè)循環(huán),15 g,11 msec半弦波。

•  防振動(dòng)測(cè)試:通過(guò)了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810G方法514.5程序I附錄C圖6中的測(cè)試,一般暴露:每軸1小時(shí)。

•  寬泛的操作溫度范圍

•  可選的帶有支架的橡膠保護(hù)套

 簡(jiǎn)便操作的設(shè)計(jì)理念

•  可只用右手或左手操作的簡(jiǎn)潔的鍵區(qū)

•  可直接訪問(wèn)大多數(shù)功能的簡(jiǎn)便易行的操作界面

•  使用內(nèi)置MicroSD存儲(chǔ)卡和可插拔MicroSD存儲(chǔ)卡的存儲(chǔ)方式

•  USB通訊端口

•  可存儲(chǔ)475000個(gè)厚度讀數(shù)或20000個(gè)波形的可選字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器

•  默認(rèn)或自定義單晶探頭設(shè)置(可選)

•  密碼保護(hù)方式的儀器鎖定

•  彩色透反QVGA顯示,帶有室內(nèi)和室外顏色設(shè)置,具有清晰度

 可選功能

   只需幾次按鍵,即可完成從簡(jiǎn)單腐蝕測(cè)厚儀到多功能測(cè)厚儀的華麗變身。45MG測(cè)厚儀提供需密碼激活的5個(gè)軟件選項(xiàng),從而躋身于工業(yè)領(lǐng)域中用途廣泛的測(cè)厚儀行列。

   回波到回波/穿透涂層:使用回波到回波選項(xiàng),儀器屏幕上會(huì)顯示金屬的實(shí)際厚度,而涂層的厚度會(huì)被忽略。穿透涂層選項(xiàng)測(cè)量金屬厚度與非金屬涂層的厚度,這兩個(gè)厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此,在進(jìn)行厚度測(cè)量時(shí),無(wú)需去掉材料表面的漆層或涂層。

   單晶: 這個(gè)選項(xiàng)可對(duì)很多材料,如:金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃及陶瓷,進(jìn)行非常厚度測(cè)量。這個(gè)選項(xiàng)可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。

   單晶高穿透:這個(gè)選項(xiàng)可對(duì)較厚或衰減性較高的材料,如:玻璃纖維或鑄造金屬,進(jìn)行厚度測(cè)量??膳c范圍在0.5 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。這個(gè)選項(xiàng)包含單晶選項(xiàng)。

   數(shù)據(jù)記錄器:45MG測(cè)厚儀帶有一個(gè)功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器,可方便地存儲(chǔ)和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。這個(gè)選項(xiàng)包含基于Windows的GageView接口程序。

   帶有波形調(diào)整功能的實(shí)時(shí)A掃描: 用戶使用這個(gè)可選實(shí)時(shí)A掃描模式,可以在測(cè)厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形(或稱A掃描),核查厚度測(cè)量讀數(shù),對(duì)增益和空白設(shè)置進(jìn)行手動(dòng)調(diào)整,以在具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用中大限度地增強(qiáng)測(cè)量性能。這個(gè)極為有益的選項(xiàng)包含手動(dòng)增益調(diào)整、擴(kuò)展空白、第一個(gè)回波空白、范圍及延遲參數(shù)。

 


室內(nèi)顯示設(shè)置,可選A掃描模式

 


室外顯示設(shè)置,可選A掃描模式

 

 

使用雙晶探頭對(duì)腐蝕工件進(jìn)行測(cè)量

  45MG測(cè)厚儀的一個(gè)主要應(yīng)用是測(cè)量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、船體外殼及其它結(jié)構(gòu)的剩余厚度。這些應(yīng)用中常使用的是雙晶探頭。

•  用于標(biāo)準(zhǔn)D79X系列雙晶探頭的自動(dòng)探頭識(shí)別功能

•  當(dāng)校準(zhǔn)過(guò)程中出現(xiàn)雙回波時(shí),會(huì)發(fā)出雙回波警告

•  回波到回波/穿透涂層選項(xiàng)可測(cè)量帶有漆層和涂層的表面

•  高溫測(cè)量:溫度可高達(dá)500 °C]

B掃描成像(基于時(shí)間)

   45MG儀器提供的B掃描功能,可在屏幕上將實(shí)時(shí)厚度讀數(shù)轉(zhuǎn)換為橫截面圖像。在觀察材料厚度在一定距離上發(fā)生的變化時(shí),這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)功能非常有用。探頭一接觸到材料表面,就會(huì)激活B掃描。凍結(jié)小值功能用于顯示掃查區(qū)域的小厚度值??蛇x45MG數(shù)據(jù)記錄器多可存儲(chǔ)單個(gè)B掃描中的10000個(gè)厚度讀數(shù)。


室內(nèi)顯示設(shè)置,B掃描模式

 回波到回波/穿透涂層選項(xiàng)

 回波到回波

 測(cè)厚儀使用多個(gè)底面回波,顯示不計(jì)涂層厚度的實(shí)際金屬厚度:

•  自動(dòng)回波到回波

•  手動(dòng)回波到回波(僅出現(xiàn)于A掃描選項(xiàng)),可進(jìn)行以下操作:

1、 增益調(diào)整

2、 擴(kuò)展空白

3、 回波空白

 


 

顯示A掃描的自動(dòng)回波到回波模式

 


 

調(diào)整第一個(gè)回波空白的手動(dòng)回波到回波模式

 

 

高溫表面

 


 

    45MG測(cè)厚儀配上D932系列探頭(D790、D790­-SM、D790-RL和D790-SL),是測(cè)量高溫材料(溫度高達(dá)500 ºC)的理想選擇,并可獲得穩(wěn)定的厚度讀數(shù)。45MG的零位補(bǔ)償功能,通過(guò)補(bǔ)償探頭延遲塊因熱漂移而產(chǎn)生的溫度變化,提高了在高溫表面上進(jìn)行測(cè)量的精確性。

 

 



 穿透涂層技術(shù)

 


 

    使用單個(gè)底面回波測(cè)量金屬的實(shí)際厚度。使用這個(gè)技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個(gè)厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此,要得到金屬的厚度,無(wú)需去掉表面的漆層和涂層。穿透涂層測(cè)量技術(shù)使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。

 


 

顯示涂層厚度和鋼材料厚度的穿透涂層模式(波形選項(xiàng)未被激活)

 


 

顯示可選波形的穿透涂層模式

 

使用單晶探頭對(duì)工件進(jìn)行精確測(cè)量

   對(duì)塑料、金屬、復(fù)合材料、玻璃、橡膠及陶瓷材料進(jìn)行厚度測(cè)量

   使用單晶探頭

 用戶使用單晶探頭可以測(cè)量金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃、陶瓷及其它材料的厚度。我們提供各種頻率、直徑和連接器類(lèi)型的單晶探頭。如果用戶要將45MG儀器與單晶探頭配合使用,則必須購(gòu)買(mǎi)單晶軟件或高穿透軟件選項(xiàng)。

•  在使用頻率范圍為2.25 MHz到30 MHz的單晶探頭時(shí),單晶軟件選項(xiàng)可顯示分辨率高達(dá)0.001毫米(0.0001英寸)的測(cè)量值。

•  高穿透軟件選項(xiàng)用于測(cè)量玻璃纖維、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。

•  測(cè)量厚度、聲速或渡越時(shí)間。

•  自動(dòng)調(diào)用默認(rèn)設(shè)置和自定義設(shè)置用于當(dāng)前應(yīng)用的功能簡(jiǎn)化了厚度測(cè)量操作。

 單晶軟件選項(xiàng)

    用戶使用單晶軟件選項(xiàng),可以完成分辨率高達(dá)0.001毫米或0.0001英寸的極為厚度測(cè)量。這個(gè)選項(xiàng)可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。

•  大多數(shù)薄材料和厚材料

•  壁厚薄如0.08毫米(0.003英寸)的塑料瓶、管件、管道及薄片材料

•  壁厚薄如0.10毫米(0.004英寸)的金屬容器、鋼圈板、機(jī)加工部件

•  汽缸孔、渦輪葉片

•  玻璃燈泡、瓶子

•  薄壁玻璃纖維、橡膠、陶瓷及復(fù)合材料

•  曲面部分或內(nèi)圓角半徑較小的容器


 

高穿透軟件選項(xiàng)可以對(duì)很多鑄造金屬部件及聲波衰減性極強(qiáng)的材料進(jìn)行測(cè)量。

 應(yīng)用設(shè)置調(diào)用

     應(yīng)用設(shè)置調(diào)用功能簡(jiǎn)化了厚度測(cè)量操作。用戶在選擇了任何一個(gè)存儲(chǔ)探頭后,45MG測(cè)厚儀即會(huì)調(diào)出所有與這個(gè)內(nèi)置探頭相關(guān)的參數(shù)。

 存儲(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置

     45MG儀器帶有21個(gè)標(biāo)準(zhǔn)單晶探頭設(shè)置,可用于常用的測(cè)量操作。這些默認(rèn)探頭設(shè)置可用于各種各樣的厚度測(cè)量應(yīng)用。

 存儲(chǔ)的自定義設(shè)置

     45MG還可存儲(chǔ)多35個(gè)自定義單晶探頭的設(shè)置,其中還包括校準(zhǔn)信息。用戶可以連接適當(dāng)?shù)奶筋^,并調(diào)用設(shè)置文件,然后儀器便可進(jìn)行厚度測(cè)量,甚至還可完成復(fù)雜的測(cè)厚應(yīng)用。

 材料聲速測(cè)量

     45MG儀器可以測(cè)量材料的聲速。在材料聲速與其它屬性密切相關(guān)的應(yīng)用中,這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)功能非常有用。典型的應(yīng)用包括監(jiān)控鑄造金屬的球化程度,以及監(jiān)控復(fù)合材料/玻璃纖維的密度變化。

 縮減率測(cè)量

     差值模式和縮減率模式是45MG的標(biāo)準(zhǔn)功能。差值模式顯示實(shí)際厚度與預(yù)先設(shè)定的厚度值之間的差異??s減率計(jì)算并顯示材料厚度變薄以后厚度縮減的百分比。對(duì)經(jīng)過(guò)彎曲變形并將制成車(chē)身面板的薄鋼板進(jìn)行的縮減率測(cè)量是一個(gè)典型的應(yīng)用。


使用20 MHz延遲塊探頭測(cè)量薄塑料材料。

 


使用V260-SM Sonopen探頭對(duì)薄玻璃進(jìn)行測(cè)量。

 


測(cè)量金屬板因彎曲變形而變薄的情況。

 


可測(cè)量包括塑料、金屬、橡膠、玻璃、陶瓷及復(fù)合材料在內(nèi)的很多材料的厚度。

 

單晶高穿透軟件選項(xiàng)



   用戶使用這個(gè)選項(xiàng)可在使用低頻單晶探頭(低到0.5 MHz)的情況下,測(cè)量橡膠、玻璃纖維、鑄件及復(fù)合材料等較厚或聲波衰減性較強(qiáng)的材料。 這個(gè)選項(xiàng)包含單晶選項(xiàng)。

•  大多數(shù)較厚或聲音衰減性較強(qiáng)的材料

•  厚鑄造金屬部件

•  厚橡膠輪胎、履帶

•  玻璃纖維船體、儲(chǔ)存罐

•  復(fù)合材料板

•  對(duì)于頻率范圍為0.5 MH到1.0 MHz的探頭,分辨率為0.01毫米(0.001英寸)

 

 

 

產(chǎn)品規(guī)格

測(cè)量

雙晶探頭測(cè)量模式

從激勵(lì)脈沖后的精確延遲到第一個(gè)回波之間的時(shí)間間隔。

自動(dòng)回波到回波(可選)

在兩個(gè)連續(xù)底面回波之間的時(shí)間間隔,不計(jì)漆層或涂層的厚度。

穿透涂層測(cè)量 (可選)

利用單個(gè)底面回波,測(cè)量金屬的實(shí)際厚度和涂層厚度(使用D7906-SM和D7906探頭)

單晶探頭測(cè)量模式(可選)

模式1:激勵(lì)脈沖與第一個(gè)底面回波之間的時(shí)間間隔。

模式2:延遲塊回波與第一個(gè)底面回波之間的時(shí)間間隔(使用延遲塊或水浸式探頭)

模式3:在激勵(lì)脈沖之后,位于第一個(gè)表面回波后的相鄰底面回波之間的時(shí)間間隔(使用延遲塊探頭或水浸式探頭)。

厚度范圍

0.080 mm~635 mm(0.003 in.~25.0 in.)視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定(要測(cè)量全的范圍需要使用單晶選項(xiàng))

材料聲速范圍

0.508 mm/μs~18.699 mm/μs(0.020 in./μs~0.7362 in./μs)

分辨率(可選擇)

低分辨率:0.1毫米(0.01英寸)

標(biāo)準(zhǔn)分辨率:0.01毫米(0.001英寸)

單晶選項(xiàng):0.001毫米(0.0001英寸)

探頭頻率范圍

標(biāo)準(zhǔn):2.25 MHz~30 MHz(-3 dB)高穿透(單晶選項(xiàng)):0.50 MHz~30 MHz(-3 dB)

一般規(guī)格

操作溫度范圍

-10 °C~50 °C(14 °F~122 °F)

鍵盤(pán)

密封、以色彩區(qū)分功能的鍵盤(pán),帶有觸感及聲音反饋

機(jī)殼

防撞擊、防水、裝有密封墊的機(jī)殼,機(jī)殼上的接口密封。設(shè)計(jì)符合IP67標(biāo)準(zhǔn)。

外型尺寸(寬 x 高 x 厚)

總體尺寸:91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm

重量

430.9克

電源

3節(jié)AA電池/USB電源供應(yīng)

電池工作時(shí)間

3節(jié)AA堿性電池:20到21小時(shí)

3節(jié)AA鎳氫電池:22到23小時(shí)

3節(jié)AA鋰離子電池:35到36小時(shí)

標(biāo)準(zhǔn)

設(shè)計(jì)符合EN15317標(biāo)準(zhǔn)

顯示

彩色透反QVGA顯示

液晶顯示,顯示屏尺寸:54.61毫米 x 41.15毫米

檢波

全波、RF波、正半波、負(fù)半波(波形選項(xiàng))

輸入/輸出

USB

2.0從接口

存儲(chǔ)卡

最大容量:2 GB可插拔MicroSD存儲(chǔ)卡

內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器(可選)

數(shù)據(jù)記錄器

45MG通過(guò)USB或MicroSD卡識(shí)別、存儲(chǔ)、調(diào)用、清除及傳輸厚度讀數(shù)、波形圖像和儀器配置信息。

容量

475000個(gè)厚度測(cè)量讀數(shù),或20000個(gè)帶厚度值的波形

文件名稱和ID編碼

32位字符的文件名,20位字符的字母數(shù)字位碼

文件結(jié)構(gòu)

6個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的或自定義的用于特定應(yīng)用的文件結(jié)構(gòu)

報(bào)告

機(jī)載報(bào)告總結(jié)了數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)和小值/大值


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