掃查面盲區(qū)高度測定試塊 NB/T47013-2015
更新時間：2019-02-10???點擊次數(shù)：110次
該類試快依據(jù)掃查面盲區(qū)高度測定試塊的要求而設計，適用于測定初初始掃差面的盲區(qū)高度。
超聲探傷、磁粉探傷、射線探傷、滲透探傷
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該類試快依據(jù)掃查面盲區(qū)高度測定試塊的要求而設計，適用于測定初初始掃差面的盲區(qū)高度。
