IIW1(V-1試塊 荷蘭試塊)試塊及支架IIW2試塊
更新時(shí)間：2019-02-10???點(diǎn)擊次數(shù)：187次
IIW試塊（V-1試塊）也稱荷蘭試塊。是由國際焊接學(xué)會(huì)（IIW）通過，國際標(biāo)準(zhǔn)化組織（ISO）推薦使用的國際標(biāo)準(zhǔn)試塊。形狀與尺寸如圖1-1所示：
使用要點(diǎn)：
（1）利用試塊厚25mm可測定探傷儀的動(dòng)態(tài)范圍、水平線性及調(diào)整縱波探測范圍；
（2） 利用φ50圓弧和φ1.5通孔測定斜探頭折射角及縱波直探頭的靈敏度余量;還可粗略估計(jì)直探頭的盲區(qū)大小及測定儀器與探頭組合后的穿透能力；
（3） 利用R100mm圓弧面測定斜探頭的入射點(diǎn)和盲區(qū)，并可校正時(shí)間軸比例和零點(diǎn)；
（4）利用測距為85mm、91mm和100mm三個(gè)槽口平面可測定直探頭的縱向分辨力；
（5）利用試塊的直角棱邊測定斜探頭聲束偏斜角。
IIW2試塊（V-2試塊），是國際焊接學(xué)會(huì)通過的標(biāo)準(zhǔn)試塊。V-2（DIN54122）與IIW試塊相比，V-2試塊的優(yōu)點(diǎn)是重量輕，便于攜帶，特別適合于現(xiàn)場使用。
