涂層測(cè)厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100

更新時(shí)間：2019-02-09???點(diǎn)擊次數(shù)：198次

德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測(cè)厚儀特點(diǎn)：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī)，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；
- 所有型號(hào)均可配所有探頭
- 可通過RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī)
- 可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)

功能

型號(hào)	1100	2100	3100	4100
MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))	1	1	10	99
每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)，可設(shè)寬容度極限值)	-	1	10	99
可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù)	-	1	500	500
數(shù)據(jù)總量	1	10000	10000	10000
MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能
讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar	-	√	√	√
讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk	-	-	√	√
組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar	-	-	√	√
組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk	-	-	√	√
存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)	-	-	-	√
分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值	-	-	√	√
顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間	-	√	√	√
其他功能
透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC)	-	√	√	√
在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn)	√	√	√	√
利用計(jì)算機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn)	√	√	√	√
補(bǔ)償一個(gè)常數(shù)(Offset)	-	-	√	√
外設(shè)的讀值傳輸存儲(chǔ)功能	-	√	√	√
保護(hù)并鎖定校準(zhǔn)設(shè)置	√	√	√	√
更換電池是存儲(chǔ)數(shù)值	√	√	√	√
設(shè)置極限值	-	-	√	√
公英制轉(zhuǎn)換	√	√	√	√
連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量，通過模擬柱識(shí)別最大最小值	-	-	√	√
連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)	-	-	√	√
浮點(diǎn)和定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送	√	√	√	√
組內(nèi)單值延遲顯示	-	√	√	√
連續(xù)測(cè)量模式中顯示最小值	√	√	√	√

可選探頭參數(shù)(探頭圖示)
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇最適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時(shí)具備F型和N性探頭的功能

探頭	量程	低端分辨率	誤差	最小曲率半徑(凸/凹)	最小測(cè)量區(qū)域直徑	最小基體厚度	探頭尺寸
F05	0-500μm	0.1μm	±(1%+0.7μm)	1/5mm	3mm	0.2mm	φ15x62mm
F1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%+1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
F1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±(1%+1μm)	平面/6mm	5mm	0.5mm	φ8x170mm
F3	0-3000μm	0.2μm	±(1%+1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
F10	0-10mm	5μm	±(1%+10μm)	5/16mm	20mm	1mm	φ25x46mm
F20	0-20mm	10μm	±(1%+10μm)	10/30mm	40mm	2mm	φ40x66mm
F50	0-50mm	10μm	±(3%+50μm)	50/200mm	300mm	2mm	φ45x70mm
N02	0-200μm	0.1μm	±(1%+0.5μm)	1/10mm	2mm	50μm	φ16x70mm
N.08Cr	0-80μm	0.1μm	±(1%+1μm)	2.5mm	2mm	100μm	φ15x62mm
N1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%+1μm)	1.5/10mm	2mm	50μm	φ15x62mm
N1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±(1%+1μm)	平面/10mm	5mm	50μm	φ13x170mm
N10	0-10mm	10μm	±(1%+25μm)	25/100mm	50mm	50μm	φ60x50mm
N20	0-20mm	10μm	±(1%+50μm)	25/100mm	70mm	50μm	φ65x75mm
N100	0-100mm	100μm	±(1%+0.3mm)	100mm/平面	200mm	50μm	φ126x155mm
CN02	10-200μm	0.2μm	±(1%+1μm)	平面	7mm	無限制	φ17x80mm
FN1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%+1μm)	1.5/10mm	5mm	F：0.5mm N：50μm	φ15x62mm
FN1.6P	0-1600μm	0.1μm	±(1%+1μm)	平面	30mm	F：0.5mm N：50μm	φ21x89mm
FN2	0-2000μm	0.2μm	±(1%+1μm)	1.5/10mm	5mm	F：0.5mm N：50μm	φ15x62mm

注：	F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測(cè)量。 N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。 CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

探頭圖示